双晶试样示意图（左），双晶中出现的内耗峰, 而由双晶旁切出的单晶则不出现此内耗峰 (1Hz)
近日，中科院固体物理研究所与德国亚琛大学合作，用不同取向差的纯铝双晶试样研究单个晶界的内耗(晶界两侧晶体点阵的取向差不同)，使晶界内耗的研究取得了新的进展。科研人员首次观察到，小角度晶界与大角度晶界的弛豫参量(激活能等)明显不同，而在大角度晶界中特殊晶界与无规晶界的弛豫参量又有明显不同。弛豫参量的差别反映了不同的晶界结构，因而可以用内耗方法来探测不同类型晶界之间的分界和结构转变。这项由孔庆平、崔平、方前锋研究员和博士生蒋卫斌、石云以及德国亚琛大学Winning博士合作完成的研究成果已连续发表在2005-2006年出版的美国“物理评论B”第71、72、73卷上。审稿人认为这些工作是晶界内耗研究的新进展。
研究人员还首次采用一种耦合模型对晶界内耗的数据进行了分析，发现不同类型晶界弛豫的耦合强度有明显差别。经过分析耦合作用对弛豫参量的影响后，得出如下结论：小角度晶界内耗的基本机制是位错攀移，而大角度晶界内耗的基本机制是晶界扩散。在此基础上，他们对多晶试样中晶界内耗以往难以解释的一些现象如内耗峰很宽，激活能很高等也作出了适当的解释。
晶界内耗峰是我国已故科学家葛庭燧院士于1947年首先在多晶试样中发现的，国际上称为“葛峰”。由于它能灵敏地反映晶界的状态，因而受到了国内外的广泛重视和研究。晶界内耗作为一个基础研究领域，已有六十年的历史，但以往的研究主要采用多晶试样，由于不同晶界的内耗混杂在一起，使晶界内耗的机理至今还不够清楚。
